CY3610 Piastra di diffrazione zero per XRD, cristallo di Si

Catalogo no.	CY3610
Materiale	Cristallo di Si
Diametro	1-12 pollici
Metodo di crescita	CZ, MCZ, FZ
Grado	Primo, test, manichino

Lapiastra di diffrazione Zero per XRD è realizzata in cristallo singolo di Si e serve come supporto per il campione. Stanford Advanced Materials (SAM) ha una ricca esperienza nella produzione e nella fornitura di prodotti ottici di alta qualità.

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Metodo di crescita	CZ, MCZ, FZ
Grado	Primo, Test, Dummy, ecc.
Diametro	4 pollici / 100 mm (1 pollice - 12 pollici / 25,4 mm - 300 mm)
Spessore	50-5000um, ecc.
Finitura	SSP DSP, ecc.
Orientamento	(100) (111) (110) (211) (311) (511) (531), ecc.
Taglio fuori asse	fino a 7deg
Tipo/Dopante	P/B, N/Phos, N/Sb, N/As, intrinseco
Resistività	CZ/MCZ: da 0,001 a 100 ohm.cm
Resistività	FZ: da 100 a >20000 ohm.cm

Metodo di crescita	CZ, MCZ, FZ
Grado	Primo, Test, Dummy, ecc.
Diametro	4 pollici / 100 mm (1 pollice - 12 pollici / 25,4 mm - 300 mm)
Spessore	50-5000um, ecc.
Finitura	SSP DSP, ecc.
Orientamento	(100) (111) (110) (211) (311) (511) (531), ecc.
Taglio fuori asse	fino a 7deg
Tipo/Dopante	P/B, N/Phos, N/Sb, N/As, intrinseco
Resistività	CZ/MCZ: da 0,001 a 100 ohm.cm
Resistività	FZ: da 100 a >20000 ohm.cm

CY3610 Piastra di diffrazione zero per XRD, cristallo di Si

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