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CY3452 Substrato SiO2/Si rivestito di Ti

Catalogo no. CY3452
Composizioni Ti, SiO2, Si
Dimensione 2, 4, 6, 8"
Spessore del film Ti: 15-100nm, o personalizzato

Ilsubstrato SiO2/Si rivestito di Ti può essere utilizzato nel campo delle nanotecnologie, nella microscopia elettronica a scansione (SEM), nella microscopia a forza atomica (AFM) e in altri campi del microscopio a scansione. Stanford Advanced Materials (SAM) ha una ricca esperienza nella produzione e fornitura di prodotti ottici di alta qualità.

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