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CY3454 Substrato di SiO2/Si rivestito di Ni

Catalogo no. CY3454
Composizione Ni, SiO2, Si
La purezza >99.99%
Dimensioni 4", 10x10x0,5 mm o personalizzato
Finitura superficiale Un lato lucidato
Orientamento <100> ±0.5°

Ilsubstrato SiO2/Si rivestito di Ni può essere utilizzato nel campo delle nanotecnologie, nella microscopia elettronica a scansione (SEM), nella microscopia a forza atomica (AFM) e in altri campi del microscopio a scansione. Stanford Advanced Materials (SAM) ha una ricca esperienza nella produzione e fornitura di prodotti ottici di alta qualità.

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