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CY9492 Substrato per wafer di silicio di tipo N (drogato con P) da 100 mm di grado primario (100), SSP, 0,001-0,01 ohm-cm

Catalogo no. CY9492
Materiale Si
Forma Disco
Forma Substrato

Il substrato di wafer di silicio da 100 mm di tipo N (drogato con P) Prime Grade (100), SSP, 0,001-0,01 ohm-cm è un wafer di silicio trattato mediante diffusione controllata e drogaggio con P per ottenere livelli precisi di resistività e un orientamento superficiale (100) ben definito. Stanford Advanced Materials (SAM) impiega tecniche avanzate di deposizione da vapore chimico e di incisione a umido, combinate con la metrologia superficiale basata sul SEM, per monitorare la qualità del cristallo e ridurre al minimo la densità dei difetti. Questo rigoroso controllo di qualità assicura proprietà elettriche e fisiche riproducibili per le applicazioni dei semiconduttori.

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