CY9438 Substrato di cristallo singolo d'argento Substrato di cristallo di Ag (111), 5x5x0,5 mm, SSP

Substrato a cristallo singolo d'argento Substrato a cristallo d'argento (111), 5x5x0,5 mm, SSP Descrizione

Il substrato in argento a cristallo singolo presenta un orientamento cristallografico (111) e dimensioni precise di 5 mm per 5 mm per 0,5 mm. La sua struttura cristallina singola garantisce una superficie uniforme che supporta studi accurati sulle interfacce e deposizioni di film sottili. La verifica mediante diffrazione di raggi X e microscopia elettronica ne conferma l'integrità strutturale, rendendolo adatto a esperimenti di microelettronica e scienza dei materiali.

Substrato a cristallo singolo d'argento Substrato a cristallo d'argento (111), 5x5x0,5 mm, SSP Applicazioni

Elettronica
- Utilizzo come strato conduttivo nei test di interconnessione dei semiconduttori per ottenere percorsi a bassa resistenza sfruttando le sue proprietà elettriche uniformi.

Ricerca industriale
- Applicato come substrato negli studi di deposizione di film sottili per migliorare l'uniformità del film e supportare l'analisi sistematica della superficie sfruttando il suo orientamento cristallografico definito.

Strumenti analitici
- Utilizzato come standard di calibrazione nelle apparecchiature di diffrazione per confermare l'accuratezza della risoluzione angolare grazie al suo preciso allineamento sul piano (111).

Substrato di cristallo singolo d'argento Substrato di cristallo d'argento (111), 5x5x0,5 mm, confezione SSP

Il substrato è confezionato singolarmente in un contenitore antistatico con imbottitura in schiuma per ridurre le sollecitazioni meccaniche e la contaminazione. È sigillato in materiali di imballaggio inerti e conservato a temperatura e umidità controllate per evitare l'ossidazione. Sono disponibili opzioni di confezionamento personalizzate, come compartimenti etichettati e strati protettivi aggiuntivi, per soddisfare i requisiti specifici di manipolazione e conservazione in laboratorio.

Domande frequenti

Q1: Come si verifica l'orientamento (111) del substrato?
A1: L'orientamento (111) è confermato dall'analisi calibrata di diffrazione dei raggi X e corroborato dalla microscopia elettronica, che garantisce l'allineamento del piano cristallino alle specifiche sperimentali.

D2: Quali misure di controllo della contaminazione vengono attuate durante la fabbricazione?
A2: Il processo di fabbricazione avviene in un ambiente di camera bianca con aria filtrata e atmosfere inerti. Dopo la fabbricazione, la superficie viene sottoposta a un'ispezione al microscopio elettronico per individuare e ridurre al minimo la contaminazione da particolato.

D3: È possibile modificare le dimensioni del substrato per specifiche esigenze di ricerca?
A3: La personalizzazione delle dimensioni richiede la ricalibrazione del processo. Per valutare la fattibilità è necessario coordinarsi con lo staff tecnico di SAM, poiché le modifiche possono influire sulle condizioni di crescita dei cristalli e sui successivi parametri di controllo della qualità.

Informazioni aggiuntive

I substrati di argento a cristallo singolo svolgono un ruolo significativo negli studi avanzati sui materiali, in particolare nella valutazione dei fenomeni superficiali, del trasporto di elettroni e della deposizione di film sottili. I loro orientamenti cristallografici ben definiti sono essenziali per le configurazioni sperimentali controllate in vari scenari di ricerca applicata.

La comprensione delle proprietà intrinseche dell'argento e dell'impatto della struttura cristallina è fondamentale nella scienza dei materiali. Tecniche di caratterizzazione complete, tra cui la diffrazione a raggi X, la microscopia elettronica a scansione e la microscopia a forza atomica, sono impiegate di routine per garantire che il substrato soddisfi i requisiti di ricerca specifici nell'elettronica e nei campi correlati.