CY9435 Substrato di cristallo singolo d'argento Substrato di cristallo d'argento (100), 10x10x0,5 mm, SSP

Substrato di cristallo singolo d'argento Substrato di cristallo d'argento (100), 10x10x0,5 mm, SSP Descrizione

Questo substrato è un cristallo singolo d'argento con orientamento definito (100) e misura 10 mm per 10 mm con uno spessore di 0,5 mm. È stato progettato per applicazioni nella caratterizzazione dei materiali e nella fabbricazione di semiconduttori, dove è fondamentale un reticolo cristallino ben definito. La valutazione del substrato attraverso la diffrazione a raggi X e la microscopia a forza atomica garantisce una densità minima di difetti e una superficie uniforme, rendendolo adatto alla calibrazione e alla ricerca sui materiali avanzati.

Substrato di cristallo singolo d'argento Substrato di cristallo d'argento (100), 10x10x0,5 mm, Applicazioni SSP

Elettronica
- Utilizzato come piattaforma nei dispositivi microelettronici per ottenere una deposizione uniforme di film sottili, sfruttando l'orientamento cristallografico controllato per una migliore crescita epitassiale.
- Applicato come base nei componenti dei sensori per ottenere proprietà conduttive stabili sfruttando la sua struttura a cristallo singolo.

Industriale
- Utilizzato come elemento nei sistemi di gestione termica all'interno di gruppi di circuiti per facilitare un'efficace dissipazione del calore, sfruttando la conducibilità termica intrinseca dell'argento.
- Utilizzato nei dispositivi metrologici di precisione per garantire una calibrazione accurata sfruttando le proprietà dimensionali costanti del substrato.

Substrato a cristallo singolo d'argento Substrato a cristallo d'argento (100), 10x10x0,5 mm, confezione SSP

Il substrato è confezionato in un supporto antistatico con imbottitura in schiuma e sigillato all'interno di un contenitore con barriera contro l'umidità per salvaguardarlo dalle sollecitazioni meccaniche e dalla contaminazione. Viene conservato in condizioni di temperatura controllata e bassa umidità per preservarne l'integrità microstrutturale. Su richiesta sono disponibili ulteriori personalizzazioni, come l'imballaggio a compartimenti stagni e l'etichettatura specifica, per garantire una gestione adeguata durante il trasporto e lo stoccaggio.

Domande frequenti

Q1: Come viene verificato l'orientamento cristallografico?
A1: Il substrato viene sottoposto all'analisi di diffrazione dei raggi X, che ne verifica l'orientamento (100) con misurazioni quantitative dei parametri reticolari. Questo metodo conferma che la struttura cristallina soddisfa le specifiche richieste per l'integrazione nei processi di ricerca e fabbricazione.

D2: Quali sono le condizioni di conservazione consigliate per questo substrato?
A2: Si consiglia lo stoccaggio in un ambiente controllato con bassa umidità e temperatura stabile. Queste condizioni riducono al minimo la contaminazione e prevengono i cambiamenti superficiali indotti dall'umidità, mantenendo così la struttura cristallografica definita del substrato.

D3: Questo substrato può essere integrato in apparecchiature standard per la lavorazione dei semiconduttori?
A3: Sì, le sue dimensioni di 10x10 mm e lo spessore di 0,5 mm si adattano ai comuni sistemi di manipolazione dei wafer. La superficie uniforme del substrato e l'orientamento controllato dei cristalli facilitano la compatibilità con gli attuali processi di deposizione e incisione utilizzati nella produzione di semiconduttori.

Informazioni aggiuntive

I substrati di cristallo singolo d'argento svolgono un ruolo fondamentale nella ricerca sulla scienza dei materiali, fornendo una piattaforma ideale per lo studio del comportamento cristallografico e dei fenomeni di superficie. I loro orientamenti ben definiti sono essenziali per le applicazioni in cui le proprietà elettriche e termiche anisotrope sono fondamentali. Valutazioni strutturali dettagliate con tecniche di diffrazione migliorano la comprensione delle dinamiche cristalline nei metalli conduttivi.

Nel contesto più ampio dell'ingegneria dei materiali, substrati come questi consentono una calibrazione precisa delle configurazioni sperimentali e contribuiscono ai progressi delle tecnologie di microfabbricazione. La loro integrazione con strumenti di misura avanzati, come la microscopia a forza atomica e la microscopia elettronica, supporta lo sviluppo e l'ottimizzazione di dispositivi elettronici e sistemi di sensori di livello successivo.