Servizi analitici

Stanford Advanced Materials (SAM) offre servizi analitici completi, tra cui ispezione dimensionale, test di conduttanza elettrica e determinazione delle dimensioni dei grani. Il nostro laboratorio avanzato è dotato di strumenti all'avanguardia per test come GDMS, ICP-MS e ICP-OES.

Forniamo anche test delle proprietà meccaniche con SEM, TEM e analisi di diffrazione dei raggi X (XRD), fornendo informazioni precise sul comportamento dei materiali. Grazie all'impegno per la qualità e l'accuratezza, SAM è il vostro partner di fiducia per servizi di analisi e test affidabili.

ELENCO COMPLETO DEI SERVIZI

Ispezione dimensionale

L'ispezione dimensionale garantisce la misurazione precisa e la verifica delle dimensioni dei componenti per soddisfare le specifiche esatte.

Test di conduttanza elettrica

I test di conduttanza elettrica misurano la capacità dei materiali di condurre la corrente elettrica, garantendo prestazioni ottimali nelle applicazioni elettriche.

GDMS

La GDMS (spettrometria di massa a scarica di bagliore) fornisce un'analisi elementare precisa dei materiali solidi, rilevando elementi in traccia e in massa per il controllo di qualità e la verifica dei materiali.

Determinazione della granulometria

La determinazione della granulometria analizza la microstruttura dei materiali per valutare la dimensione dei grani, che influisce sulla resistenza e sulle prestazioni del materiale.

ICP-MS

La spettrometria di massa ICP-MS (Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry) è una tecnica altamente sensibile utilizzata per rilevare e quantificare gli elementi in traccia in vari materiali.

ICP-OES

L'ICP-OES (Spettroscopia di emissione ottica al plasma ad accoppiamento induttivo) è una tecnica utilizzata per la rilevazione e l'analisi precisa di più elementi in un campione attraverso l'emissione di luce.

Proprietà meccaniche

I test sulle proprietà meccaniche valutano la resistenza, l'elasticità, la durezza e la durata di un materiale per garantire che soddisfi i requisiti di prestazione.

SEM

La microscopia elettronica a scansione (SEM) fornisce immagini dettagliate delle superfici dei materiali ad alto ingrandimento per un'analisi strutturale precisa.

GST

La TEM (microscopia elettronica a trasmissione) offre immagini ad alta risoluzione delle strutture dei materiali a livello atomico per un'analisi approfondita.

Analisi di diffrazione dei raggi X (XRD)

L'analisi di diffrazione dei raggi X (XRD) identifica la struttura cristallina dei materiali, fornendo indicazioni sulla composizione delle fasi e sulle proprietà dei materiali.

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